Аналитические приборы и лабораторное оборудование, газовые хроматографы, хромато-масс-спектрометры, газохроматографические анализаторы, приборы для ВЭЖХ, высокоэффективные жидкостные хроматографы, препаративные жидкостные хроматографы, ИК-Фурье спектрометры, Рамановские спектрометры, БИК спектрометры, промышленные БИК анализаторы пищевых продуктов, УФ спектрофотометры, флуориметры, спектрофлуориметры, атомно-абсорбционные спектрофотометры, элементные анализаторы, рентгенофлуоресцентные спектрометры для анализа металла, оптико-эмиссионные анализаторы элементного состава металлов, сплавов, спектрометры ИСП, масс-спектрометры, газоаналитические приборы, масс-спектрометрические газоанализаторы.
Manufacturers and suppliers of analytical equipment (FTIR spectrometers, NIR, FT-NIR, Raman spectrometers, UV-Visible spectrophotometers, fluorescence spectrometers, fluorimeters, refractometers, polarimetersatomic-absorption spectrometers, optical-emission spectrometers, X-ray fluorescence spectrometers, X-ray diffractometers, XRF spectrometers for metal analysis, spark OES metal analyzers, glow discharge spectrometers for metal analysis, NMR spectrometers, mass-spectrometers, GC-MS systems, LC-MS systems, gas chromatography instruments, process GC systems, liquid chromatography instruments, HPLC systems, electrophoresis systems, food analysis instruments, water analysis instruments, pharmaceutical analysis instruments, petroleum testing instruments, gas analyzers, elemental analyzers, analytical electron microscopes, SEM, TEM systems, FTIR microscopes, thermal analysis instruments, calorimeters, viscometers, rheometers). Производители и поставщики аналитического оборудования (ИК-Фурье спектрометры, БИК, Рамановские спектрометры, УФ спектрометры, спектрофлуориметры, рефрактометры, поляриметры, атомно-абсорбционные спектрометры, оптико-эмиссионные спектрометры, рентгенофлуоресцентные спектрометры для определения состава металла, марки сплава, спектрометры ЯМР, масс-спектрометры, хромато-масс-спектрометры, газовые хроматографы, жидкостные хроматографы, приборы для электрофореза, приборы для контроля качества и безопасности пищевых продуктов, воды, лекарственных средств, анализаторы нефтепродуктов, газоанализаторы, элементные анализаторы, аналитические электронные микроскопы, ИК микроскопы, приборы для термоанализа, калориметры, вискозиметры, реометры).
C - index of alphabetical catalogue in English language. C - индекс алфавитного каталога на русском языке.
Information about the company Информация о компании (русский текст)
CAMECA.
CAMECA (France) is a manufacturer of surface microanalysis and elemental mapping instruments for research, materials science, geology, geosciences, semiconductors, and metrology equipment for semiconductor industry. CAMECA is a business unit of the AMETEK Materials Analysis Division. CAMECA manufactures low energy X-ray emission spectrometry systems, SIMS microprobe analyzers, secondary ion mass spectrometry systems for semiconductors materials science and geosciences, EPMA, electron probe microanalysis systems for materials science and geosciences, laser assisted tomographic atom probe microanalysis and imaging systems for materials and semiconductors. The CAMECA instruments provide elemental and isotopic composition data from micron down to sub-nanometer scale. The company manufactures a broad range of secondary ion mass spectrometers for surface microanalysis: universal magnetic sector SIMS system for materials and semiconductors, magnetic sector SIMS system for advanced semiconductors, magnetic sector SIMS system for geoscience laboratories, ultra high sensitivity magnetic sector SIMS system for geoscience labs, high performance SIMS system for isotopic and trace element analysis at high spatial resolution, universal quadrupole SIMS system for semiconductors and materials, shielded magnetic sector SIMS system for radioactive samples (on request). CAMECA manufactures laser assisted tomographic atom probe microanalysis and imaging system providing quantitative atomic scale 3D elemental mapping of chemical heterogeneities in materials. Laser assisted tomographic atom probe microanalysis and imaging system features atomic scale depth resolution in semiconductors, excellent mass resolution even on low thermal conductivity materials, large area of analysis (up to 100 nm in diameter) for a better statistics on composition measurements, flexible and fast dedicated FIM (field ion microscopy) detector for metallurgical applications. CAMECA manufactures electron probe microanalysis system (EPMA system) for materials science and geosciences. Electron probe microanalysis system featured fully integrated optical microscope, up to 5 wavelength dispersive spectrometers (WDXRF spectrometers), + energy dispersive spectrometer (EDXRF spectrometer), high voltage electron gun operates at up to 40 kV for elements with high atomic number, trace element measurements and high speed X-ray mapping. Also manufactures shielded electron probe microanalysis system for radioactive samples. Electron probe microanalyzer system are equipped with a complete kit of built-in microscopy tools that allow simultaneous X-ray (WDXRF and EDXRF), SEM and BSE imaging. CAMECA manufatures process control systems for the semiconductor manufacturing industry (metrology tools): in-line low energy X-ray emission spectrometer system, near-line full wafer magnetic sector SIMS analyzer, automated, full wafer quadrupole SIMS analyzer.
CAMECA.
Французская приборостроительная компания (подразделение AMETEK Materials Analysis Division), производитель аналитического оборудования для полупроводниковой промышленности, микроэлектроники, нанотехнологий, материаловедения, геохимии, приборов для изучения микроструктуры материалов, анализа химического и изотопного состава поверхности полупроводниковых материалов, наноматериалов, геологических образцов, элементного картирования на уровне микрометров и нанометров. Компания CAMECA производит приборы для микроанализа на основе рентгеновской эмиссионной спектроскопии: низкоэнергетические рентгеновские эмиссионные микроспектрометры для неразрушающего послойного анализа элементного состава полупроводниковых материалов, микросхем (low energy X-ray emission spectrometry microanalysis systems), электронно-зондовые микроаналитические системы (EPMA, electron probe microanalysis systems), включающие высокоэнергетическую (40 кВ) электронную пушку для определения тяжёлых элементов, работающие параллельно волновые рентгеновские эмиссионные микроспектрометры (до 5 волновых рентгеновских спектрометров) + энергодисперсионный рентгеновский эмиссионный микроспектрометр, оптический микроскоп + детектор для полевой ионной микроскопии (FIM, field ion microscopy detector) для металлографического анализа. Электронно-зондовая микроаналитическая система (EPMA, electron probe microanalysis systems) работает аналогично системе включающей сканирующий электронный микроскоп (SEM) и рентгенофлуоресцентный зондовый микроспектрометр, но обладает более широкими возможностями для элементного микроанализа и картирования химического состава поверхности материалов. CAMECA производит магнитные секторные масс-спектрометры вторичных ионов, квадрупольные масс-спектрометры вторичных ионов для микроанализа и картирования химического состава, изотопного состава поверхности материалов, полупроводниковых пластин, микросхем, геологических образцов, минералов (magnetic sector SIMS microprobe analyzers, quadrupole SIMS microprobe analyzers). Производит также лазерные атомно-силовые аналитические микроскопы (laser assisted tomographic atom probe microanalysis and imaging system) для трехмерного элементного анализа и послойного картирования на уровне микрометров и нанометров. CAMECA производит по заказу экранированные микроаналитические системы для радиоактивных образцов (масс-спектрометры вторичных ионов и электронные аналитические микроскопы для работы с радиоактивными материалами). 
Компания CAMECA производит промышленное микроаналитическое оборудование для неразрушающего контроля качества кремниевых пластин с микросхемами для полупроводниковой промышленности, микроэлектронной промышленности (автоматизированные приборы для аналитического контроля технологических процессов при производстве интегральных микросхем): поточный рентгеновский эмиссионный спектрометр - анализатор полупроводниковых пластин (in-line low energy X-ray emission spectrometer system) и автоматизированный квадрупольный масс-спектрометр вторичных ионов для анализа поверхности полупроводниковых пластин (automated full wafer quadrupole SIMS analyzer).
Company has been included into the sections: Компания включена в следующие разделы:
Manufacturers and suppliers of elemental analysis equipment, instruments, systems - CHNOS analyzers, atomic absorption spectrometers, atomic fluorescence spectrometers, optical emission spectrometers, ICP-AES systems, ICP-MS systems, lab, portable, process XRF spectrometers, mercury analyzers, OES metal analyzers, XRF metal analyzers. Производители и поставщики оборудования, приборов для анализа элементного состава вещества, элементного анализа, определения углерода, водорода, азота, кислорода, серы, спектрометров для анализа токсичных элементов, ртути, кадмия, свинца в пищевых продуктах, питьевой воде, анализа металлов, стали и сплавов.
Manufacturers and suppliers of mass spectrometry equipment, instruments, systems (mass spectrometry, GC-MS and LC-MS instrumentation). Производители и поставщики оборудования, приборов, систем для масс спектрометрии и хромато-масс-спектрометрии.
Manufacturers and suppliers of magnetic-sector mass spectrometers, GC-MS and LC-MS systems (magnetic sector mass spectrometer - gas chromatograph, magnetic sector mass spectrometer - high performance liquid chromatograph systems). Производители и поставщики магнитных секторных масс спектрометров и хромато-масс-спектрометров (систем магнитный секторный масс спектрометр - газовый хроматограф или высокоэффективный жидкостный хроматограф).
Manufacturers and suppliers of quadrupole mass spectrometers, GC-MS and LC-MS systems (quadrupole mass spectrometer - gas chromatograph, quadrupole mass spectrometer - high performance liquid chromatograph systems). Производители и поставщики квадрупольных масс-спектрометров и хромато-масс-спектрометров (систем квадрупольный масс спектрометр - газовый хроматограф, квадрупольный масс спектрометр - высокоэффективный жидкостный хроматограф.
Manufacturers and suppliers of surface analysis secondary ion mass spectrometry systems (secondary ion mass spectrometers, SIMS). Производители и поставщики масс спектрометров вторичных ионов для масс-спектрометрического анализа поверхности материалов.
Manufacturers and suppliers of isotope ratio mass spectrometers (IRMS, stable isotope ratio mass spectrometry equipment, instruments, systems). Производители и поставщики изотопных масс спектрометров (масс-спектрометров для анализа изотопного состава).
Manufacturers and suppliers of X-ray spectroscopy equipment, instruments, systems (X-Ray fluorescence spectrometry instrumentation, X-ray fluorescence spectrometers or XRF spectrometers, XRF analyzers). Производители и поставщики оборудования, приборов, систем для рентгено-флуоресцентного анализа, рентгенофлуоресцентных спектрометров, рентгенофлуоресцентных анализаторов.
Manufacturers and suppliers of X-ray fluorescence spectrometers, XRF spectrometers (X-ray fluorescence elemental analyzers, portable X-ray fluorescence metal analyzers, handheld XRF alloy sorters, XRF gold analyzers, X-ray fluorescence sulfur-in-oil analyzers, total sulphur analyzers). Производители и поставщики рентгенофлуоресцентных спектрометров (ренгенофлуоресцентные элементные анализаторы, портативные анализаторы состава металла, сплава, драгметалла, анализаторы содержания серы в нефти, нефтепродуктах).
Manufacturers and suppliers of X-ray microanalysis systems, micro XRF analyzers (X-ray microanalysis instrumentation, micro-XRF analysis systems, micro EDXRF analysis systems, X-ray fluorescence spectrometers for surface microanalysis, element mapping and imaging). Производители и поставщики рентгеновских микроаналитических систем, микро-рентгенофлуоресцентных спектрометров для элементного микроанализа поверхности материалов, элементного картирования, визуализации химического состава поверхности.
Manufacturers and suppliers of equipment, instruments, systems for optical microscopy and electron microscopy, analytical microscopy, microanalysis (analytical Raman and FT-IR microscopes, analytical X-ray microscopes). Производители и поставщики оборудования, приборов, систем для оптической микроскопии, электронной микроскопии, микроанализа (аналитических ИК, Рамановских, рентгеновских микроскопов).
Manufacturers and suppliers of electron microscopy equipment, instruments, systems - transmission electron microscopes (TEM systems), scanning electron microscopes (SEM systems), analytical microscopes (microanalysis systems), electron microscopy specimen preparation equipment. Производители и поставщики оборудования, приборов, систем для электронной микроскопии и микроанализа - просвечивающих, растровых, сканирующих электронных микроскопов, оборудования для элементного микроанализа и картирования, пробоподготовки.
Manufacturers and suppliers of scanning probe microscopes (SPM systems), atomic force microscopes (AFM systems). Производители и поставщики сканирующих зондовых микроскопов, атомно-силовых микроскопов.
Manufacturers and suppliers of scanning electron microscopes (SEM systems). Производители и поставщики растровых электронных микроскопов, сканирующих электронных микроскопов.
Manufacturers and suppliers of surface characterization (surface sciences, material surface analysis, surface testing) equipment, instruments, systems. Производители и поставщики оборудования, приборов, систем для измерения, анализа, испытания свойств поверхности материалов.
Manufacturers and suppliers of surface analysis (material surface analysis and surface microanalysis, chemical imaging) equipment, instruments, systems. Производители и поставщики оборудования, приборов, систем для химического анализа и микроанализа поверхности материалов.
Author of the catalogue - Andrey Yurievich Zhdanov. Автор каталога - Андрей Юрьевич Жданов.
.
Статистика LiveInternet (multilanguage statistics). Статистика счетчика Rambler's  Top 100.       .
Analytical and laboratory equipment companies, scientific instrument companies. Производители и поставщики аналитического и лабораторного оборудования.
В каталог включаются производители и поставщики следующего оборудования: аналитические приборы, научные приборы, лабораторное и научное оборудование, приборы для спектрального химического анализа (атомно-абсорбционные, атомно-флуоресцентные, атомно-эмиссионные, оптико-эмиссионные спектрометры, флуориметры, спектрофлуориметры, колориметры, фотометры, спектрофотометры, рефрактометры, поляриметры, сахариметры, масс-спектрометры, рентгеновские, рентгенофлуоресцентные спектрометры, ЯМР, ЭПР спектрометры), оборудование для оптической спектроскопии, масс-спектрометрии, ЯМР и ЭПР спектроскопии, рентгеновской спектрометрии, рентгенофлуоресцентного анализа, приборы, оборудование, колонки для газовой хроматографии, газо-жидкостной хроматографии и хромато-масс-спектрометрии, высокоэффективной жидкостной хроматографии, жидкостной хромато-масс-спектрометрии, флюидной хроматографии, капиллярной, микроколоночной ВЭЖХ, препаративной жидкостной хроматографии, тонкослойной хроматографии (газовые хроматографы, газовые хромато-масс-спектрометры, высокоэффективные жидкостные хроматографы и хромато-масс-спектрометры, ионные хроматографы, препаративные жидкостные хроматографы, оборудование для ТСХ), приборы и оборудование для электрофореза, системы капиллярного зонного электрофореза, капиллярной мицеллярной электрохроматографии, приборы для электрохимического анализа (рН-метры, иономеры, полярографы), проточно-инжекционные анализаторы, приборы для элементного анализа, определения содержания общего углерода, определения общего азота, анализа содержания белка по Кьельдалю, определения содержания общей серы в нефти, нефтепродуктах, экспресс-анализа состава металла, определения марки сплава по элементному составу (элементные анализаторы), лабораторное оборудование, приборы для контроля качества продуктов питания, зерна, химического и микробиологического анализа пищевых продуктов, контроля безопасности пищевых продуктов, приборы для анализа воды, контроля чистоты воды, контроля качества питьевой воды, приборы для контроля качества лекарственных средств, контроля чистоты лекарственных препаратов, контроля безопасности лекарств, лабораторные и портативные приборы для анализа состава, контроля качества нефтепродуктов, нефти, контроля качества бензина и дизельного топлива, керосина, смазочных масел, газоаналитическое оборудование, приборы для анализа газов нефтепереработки, приборы для анализа чистых газов, контроля чистоты газов, ИК-Фурье спектрометры для анализа газов, масс-спектрометры для анализа газов, газоанализаторы для контроля промышленных газовых выбросов, анализаторы состава дымовых газов, приборы для термического анализа, дифференциального термоанализа, термогравиметрического анализа, дифференциальной калориметрии, дилатометрии (термовесы, калориметры, дилатометры), приборы для динамического механического анализа, термомеханического анализа, изучения теплофизических характеристик материалов, теплоизолирующих свойств материалов, измерения теплопроводности материалов, приборы для материаловедения, металлографического анализа, оборудование для испытания материалов, машины для механофизических испытаний материалов (испытательные машины, твердомеры, термокамеры), приборы для реологии, измерения вязкости, определения вязкоэластичных свойств материалов, анализа текстуры материалов (вискозиметры, реометры, анализаторы текстуры), приборы для анализа размера и формы частиц сыпучих материалов, порошков, определения размера пор, объема пор, измерения удельной поверхности, истинной плотности сыпучих и пористых материалов, измерения дзета-потенциала частиц, приборы для рентгеноструктурного анализа (рентгеновские дифрактометры), оборудование, приборы для оптической микроскопии, рентгеновской микроскопии, электронной микроскопии, изучения микроструктуры и микроанализа поверхности материалов, элементного картирования поверхности образца (оптические, электронные, атомно-силовые, рентгеновские микроскопы и микроспектрометры, аналитические микроскопы), оборудование для микробиологической лаборатории, приборы для микробиологического анализа, пищевой микробиологии, санитарно-микробиологического контроля пищевых продуктов, питьевой воды, лабораторное оборудование и аналитические приборы для биологии, биотехнологии, фармакологии, фармацевтики, контроля качества продукции фармацевтической промышленности (считыватели микропланшетов, счетчики колоний, анализаторы роста микроорганизмов, ламинарные боксы биологической безопасности, перчаточные боксы, лабораторные инкубаторы, ферментеры, биореакторы).
CAMECA производит магнитные секторные масс-спектрометры вторичных ионов, квадрупольные масс-спектрометры вторичных ионов, рентгенофлуоресцентные спектрометры, атомно-силовые аналитические микроскопы, приборы для микроанализа и картирования химического состава, изотопного состава полупроводниковых материалов, микросхем, геологических образцов, минералов. Продукция компании: приборы для рентгенофлуоресцентного микроанализа, элементного картирования, низкоэнергетические рентгеновские микроспектрометры для послойного анализа элементного состава полупроводниковых материалов, кремниевых пластин, микросхем, электронно-зондовые микроаналитические системы, зондовые волновые рентгенофлуоресцентные микроспектрометры, зондовые энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные микроспектрометры, магнитные секторные масс-спектрометры вторичных ионов, квадрупольные масс-спектрометры вторичных ионов для микроанализа и картирования химического состава, изотопного состава поверхности материалов, полупроводниковых пластин, микросхем, геологических образцов, минералов, лазерные атомно-силовые аналитические микроскопы для трехмерного элементного анализа и картирования на уровне микрометров и нанометров, поточный рентгенофлуоресцентный анализатор полупроводниковых пластин, автоматизированный квадрупольный масс-спектрометр вторичных ионов для контроля качества полупроводниковых пластин для микроэлектронной промышленности, производства микросхем.