| C - index of alphabetical catalogue in English language. | C - индекс алфавитного каталога на русском языке. |
|
|
| Information about the company | Информация о компании (русский текст) |
| CAMECA. | |
| CAMECA (France) is a manufacturer of surface microanalysis and elemental mapping instruments for research, materials science, geology, geosciences, semiconductors, and metrology equipment for semiconductor industry. CAMECA is a business unit of the AMETEK Materials Analysis Division. CAMECA manufactures low energy X-ray emission spectrometry systems, SIMS microprobe analyzers, secondary ion mass spectrometry systems for semiconductors materials science and geosciences, EPMA, electron probe microanalysis systems for materials science and geosciences, laser assisted tomographic atom probe microanalysis and imaging systems for materials and semiconductors. The CAMECA instruments provide elemental and isotopic composition data from micron down to sub-nanometer scale. The company manufactures a broad range of secondary ion mass spectrometers for surface microanalysis: universal magnetic sector SIMS system for materials and semiconductors, magnetic sector SIMS system for advanced semiconductors, magnetic sector SIMS system for geoscience laboratories, ultra high sensitivity magnetic sector SIMS system for geoscience labs, high performance SIMS system for isotopic and trace element analysis at high spatial resolution, universal quadrupole SIMS system for semiconductors and materials, shielded magnetic sector SIMS system for radioactive samples (on request). CAMECA manufactures laser assisted tomographic atom probe microanalysis and imaging system providing quantitative atomic scale 3D elemental mapping of chemical heterogeneities in materials. Laser assisted tomographic atom probe microanalysis and imaging system features atomic scale depth resolution in semiconductors, excellent mass resolution even on low thermal conductivity materials, large area of analysis (up to 100 nm in diameter) for a better statistics on composition measurements, flexible and fast dedicated FIM (field ion microscopy) detector for metallurgical applications. CAMECA manufactures electron probe microanalysis system (EPMA system) for materials science and geosciences. Electron probe microanalysis system featured fully integrated optical microscope, up to 5 wavelength dispersive spectrometers (WDXRF spectrometers), + energy dispersive spectrometer (EDXRF spectrometer), high voltage electron gun operates at up to 40 kV for elements with high atomic number, trace element measurements and high speed X-ray mapping. Also manufactures shielded electron probe microanalysis system for radioactive samples. Electron probe microanalyzer system are equipped with a complete kit of built-in microscopy tools that allow simultaneous X-ray (WDXRF and EDXRF), SEM and BSE imaging. CAMECA manufatures process control systems for the semiconductor manufacturing industry (metrology tools): in-line low energy X-ray emission spectrometer system, near-line full wafer magnetic sector SIMS analyzer, automated, full wafer quadrupole SIMS analyzer. | |
| CAMECA. | |
| Французская
приборостроительная компания (подразделение AMETEK
Materials Analysis Division), производитель аналитического оборудования
для полупроводниковой промышленности, микроэлектроники, нанотехнологий,
материаловедения, геохимии, приборов для изучения микроструктуры материалов,
анализа химического и изотопного состава поверхности полупроводниковых
материалов, наноматериалов, геологических образцов, элементного картирования
на уровне микрометров и нанометров. Компания CAMECA производит приборы
для микроанализа на основе рентгеновской эмиссионной спектроскопии: низкоэнергетические
рентгеновские эмиссионные микроспектрометры для неразрушающего послойного
анализа элементного состава полупроводниковых материалов, микросхем (low
energy X-ray emission spectrometry microanalysis systems), электронно-зондовые
микроаналитические системы (EPMA, electron probe microanalysis systems),
включающие высокоэнергетическую (40 кВ) электронную пушку для определения
тяжёлых элементов, работающие параллельно волновые рентгеновские эмиссионные
микроспектрометры (до 5 волновых рентгеновских спектрометров) + энергодисперсионный
рентгеновский эмиссионный микроспектрометр, оптический микроскоп + детектор
для полевой ионной микроскопии (FIM, field ion microscopy detector) для
металлографического анализа. Электронно-зондовая микроаналитическая система
(EPMA, electron probe microanalysis systems) работает аналогично системе
включающей сканирующий электронный микроскоп (SEM) и рентгенофлуоресцентный
зондовый микроспектрометр, но обладает более широкими возможностями для
элементного микроанализа и картирования химического состава поверхности
материалов. CAMECA производит магнитные секторные масс-спектрометры вторичных
ионов, квадрупольные масс-спектрометры вторичных ионов для микроанализа
и картирования химического состава, изотопного состава поверхности материалов,
полупроводниковых пластин, микросхем, геологических образцов, минералов
(magnetic sector SIMS microprobe analyzers, quadrupole SIMS microprobe
analyzers). Производит также лазерные атомно-силовые аналитические микроскопы
(laser assisted tomographic atom probe microanalysis and imaging system)
для трехмерного элементного анализа и послойного картирования на уровне
микрометров и нанометров. CAMECA производит по заказу экранированные микроаналитические
системы для радиоактивных образцов (масс-спектрометры вторичных ионов и
электронные аналитические микроскопы для работы с радиоактивными материалами).
Компания CAMECA производит промышленное микроаналитическое оборудование для неразрушающего контроля качества кремниевых пластин с микросхемами для полупроводниковой промышленности, микроэлектронной промышленности (автоматизированные приборы для аналитического контроля технологических процессов при производстве интегральных микросхем): поточный рентгеновский эмиссионный спектрометр - анализатор полупроводниковых пластин (in-line low energy X-ray emission spectrometer system) и автоматизированный квадрупольный масс-спектрометр вторичных ионов для анализа поверхности полупроводниковых пластин (automated full wafer quadrupole SIMS analyzer). |
|
| Company has been included into the sections: | Компания включена в следующие разделы: |
| Manufacturers and suppliers of scanning electron microscopes (SEM systems). | Производители и поставщики растровых электронных микроскопов, сканирующих электронных микроскопов. |
|
| Author of the catalogue - Andrey Yurievich Zhdanov. | Автор каталога - Андрей Юрьевич Жданов. |
|
|
|
|
|
|
|
|
| Analytical and laboratory equipment companies, scientific instrument companies. | Производители и поставщики аналитического и лабораторного оборудования. |
| В каталог включаются производители и поставщики следующего оборудования: аналитические приборы, научные приборы, лабораторное и научное оборудование, приборы для спектрального химического анализа (атомно-абсорбционные, атомно-флуоресцентные, атомно-эмиссионные, оптико-эмиссионные спектрометры, флуориметры, спектрофлуориметры, колориметры, фотометры, спектрофотометры, рефрактометры, поляриметры, сахариметры, масс-спектрометры, рентгеновские, рентгенофлуоресцентные спектрометры, ЯМР, ЭПР спектрометры), оборудование для оптической спектроскопии, масс-спектрометрии, ЯМР и ЭПР спектроскопии, рентгеновской спектрометрии, рентгенофлуоресцентного анализа, приборы, оборудование, колонки для газовой хроматографии, газо-жидкостной хроматографии и хромато-масс-спектрометрии, высокоэффективной жидкостной хроматографии, жидкостной хромато-масс-спектрометрии, флюидной хроматографии, капиллярной, микроколоночной ВЭЖХ, препаративной жидкостной хроматографии, тонкослойной хроматографии (газовые хроматографы, газовые хромато-масс-спектрометры, высокоэффективные жидкостные хроматографы и хромато-масс-спектрометры, ионные хроматографы, препаративные жидкостные хроматографы, оборудование для ТСХ), приборы и оборудование для электрофореза, системы капиллярного зонного электрофореза, капиллярной мицеллярной электрохроматографии, приборы для электрохимического анализа (рН-метры, иономеры, полярографы), проточно-инжекционные анализаторы, приборы для элементного анализа, определения содержания общего углерода, определения общего азота, анализа содержания белка по Кьельдалю, определения содержания общей серы в нефти, нефтепродуктах, экспресс-анализа состава металла, определения марки сплава по элементному составу (элементные анализаторы), лабораторное оборудование, приборы для контроля качества продуктов питания, зерна, химического и микробиологического анализа пищевых продуктов, контроля безопасности пищевых продуктов, приборы для анализа воды, контроля чистоты воды, контроля качества питьевой воды, приборы для контроля качества лекарственных средств, контроля чистоты лекарственных препаратов, контроля безопасности лекарств, лабораторные и портативные приборы для анализа состава, контроля качества нефтепродуктов, нефти, контроля качества бензина и дизельного топлива, керосина, смазочных масел, газоаналитическое оборудование, приборы для анализа газов нефтепереработки, приборы для анализа чистых газов, контроля чистоты газов, ИК-Фурье спектрометры для анализа газов, масс-спектрометры для анализа газов, газоанализаторы для контроля промышленных газовых выбросов, анализаторы состава дымовых газов, приборы для термического анализа, дифференциального термоанализа, термогравиметрического анализа, дифференциальной калориметрии, дилатометрии (термовесы, калориметры, дилатометры), приборы для динамического механического анализа, термомеханического анализа, изучения теплофизических характеристик материалов, теплоизолирующих свойств материалов, измерения теплопроводности материалов, приборы для материаловедения, металлографического анализа, оборудование для испытания материалов, машины для механофизических испытаний материалов (испытательные машины, твердомеры, термокамеры), приборы для реологии, измерения вязкости, определения вязкоэластичных свойств материалов, анализа текстуры материалов (вискозиметры, реометры, анализаторы текстуры), приборы для анализа размера и формы частиц сыпучих материалов, порошков, определения размера пор, объема пор, измерения удельной поверхности, истинной плотности сыпучих и пористых материалов, измерения дзета-потенциала частиц, приборы для рентгеноструктурного анализа (рентгеновские дифрактометры), оборудование, приборы для оптической микроскопии, рентгеновской микроскопии, электронной микроскопии, изучения микроструктуры и микроанализа поверхности материалов, элементного картирования поверхности образца (оптические, электронные, атомно-силовые, рентгеновские микроскопы и микроспектрометры, аналитические микроскопы), оборудование для микробиологической лаборатории, приборы для микробиологического анализа, пищевой микробиологии, санитарно-микробиологического контроля пищевых продуктов, питьевой воды, лабораторное оборудование и аналитические приборы для биологии, биотехнологии, фармакологии, фармацевтики, контроля качества продукции фармацевтической промышленности (считыватели микропланшетов, счетчики колоний, анализаторы роста микроорганизмов, ламинарные боксы биологической безопасности, перчаточные боксы, лабораторные инкубаторы, ферментеры, биореакторы). | |
| CAMECA производит магнитные секторные масс-спектрометры вторичных ионов, квадрупольные масс-спектрометры вторичных ионов, рентгенофлуоресцентные спектрометры, атомно-силовые аналитические микроскопы, приборы для микроанализа и картирования химического состава, изотопного состава полупроводниковых материалов, микросхем, геологических образцов, минералов. Продукция компании: приборы для рентгенофлуоресцентного микроанализа, элементного картирования, низкоэнергетические рентгеновские микроспектрометры для послойного анализа элементного состава полупроводниковых материалов, кремниевых пластин, микросхем, электронно-зондовые микроаналитические системы, зондовые волновые рентгенофлуоресцентные микроспектрометры, зондовые энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные микроспектрометры, магнитные секторные масс-спектрометры вторичных ионов, квадрупольные масс-спектрометры вторичных ионов для микроанализа и картирования химического состава, изотопного состава поверхности материалов, полупроводниковых пластин, микросхем, геологических образцов, минералов, лазерные атомно-силовые аналитические микроскопы для трехмерного элементного анализа и картирования на уровне микрометров и нанометров, поточный рентгенофлуоресцентный анализатор полупроводниковых пластин, автоматизированный квадрупольный масс-спектрометр вторичных ионов для контроля качества полупроводниковых пластин для микроэлектронной промышленности, производства микросхем. |