| F - index of alphabetical catalogue in English language. | F - индекс алфавитного каталога на русском языке. |
|
|
| Information about the company | Информация о компании (русский текст) |
| FEI Company. | |
| FEI Company is a manufacturer of scanning electron microscopes (SEM systems), transmission electron microscopes (TEM systems), dualbeams instruments (SEM/FIB systems), and focused ion beam instruments (FIB systems). FEI Company manufactures scanning electron microscopes (SEM systems) with EBIC, STEM, EDS, WDS, EBSD, and field emission gun (FEG/SEM) capabilities. FEI Company manufactures transmission electron microscopes (TEM systems) and scanning / transmision electron microscopes (S/TEM systems). FEI Company manufactures FIB/SEM systems for transmission electron microscope sample preparation (TEM sample preparation), microanalysis, 3D microscopy, 3D defect characterization, failure analysis, industrial failure analysis, process control applications, and . The FIB/SEM systems features three SEM imaging modes (high vacuum, low vacuum, ESEM), integrated focused ion beam (FIB) adds cross sectioning capabilities. ESEM mode allows in situ study of the dynamic behavior of materials at different humidity levels (up to 100% RH) and temperatures (up to 1500° C). FEI Company offers full wafer DualBeam microscopes with 300mm capability for fast and accurate 3D defect characterization, failure analysis and transmission electron microscope (TEM) sample preparation. FEI Company manufactures defect analyzer system combining tool automation, electron imaging, focused ion beam milling, and proprietary beam chemistry technology to enable three-dimensional analysis of advanced process defects. FEI Company manufactures focused ion beam systems (FIB systems) provides effective cross-sectioning, imaging and transmission electron microscopy (TEM) sample preparation. | |
| FEI Company. | |
| Транснациональная
приборостроительная компания, производитель сканирующих электронных микроскопов,
просвечивающих электронных микроскопов, оборудования для электронной микроскопии
и элементного микроанализа, приборов для микроструктурного анализа с помощью
дифракции отражённых электронов, эмиссионной рентгеновской спектроскопии,
рентгеновского микроанализа химического состава поверхности материалов,
полупроводников, контроля качества в микроэлектронной промышленности. FEI
Company производит сканирующие электронные микроскопы, просвечивающие электронные
микроскопы, комбинированные двухлучевые приборы для электронной / ионной
микроскопии, трёхмерного микроструктурного и элементного микроанализа
(SEM/FIB systems), приборы с фокусированным ионным пучком (focused ion
beam, FIB systems) для трёхмерного микроструктурного анализа и обнаружения
дефектов полупроводниковых пластин, подготовки образца для анализа на просвечивающем
электронном микроскопе. Компания производит приборы высокого класса как
для научных исследований в области материаловедения, создания новых наноматериалов,
нанотехнологии, микроэлектроники, так и для технологического контроля на
производстве интегральных микросхем.
FEI Company производит системы объединяющие сканирующий электронный микроскоп и просвечивающий электронный микроскоп (scanning / transmision electron microscope, S/TEM system), сканирующий электронные микроскоп и рентгеновский энергодисперсионный спектрометр, рентгеновский волновой спектрометр, оборудование для дифракции отраженных электронов, полевой эмиссионной спектрометрии (SEM + EBIC, EDS, WDS, EBSD, FEG = аналитический сканирующий электронный микроскоп). Компания производит сканирующие электронные микроскопы со встроенной ионной оптикой, двухлучевые системы (FIB/SEM systems)- в этих приборах к возможностям трехмерного микроструктурного анализа и элементного микроанализа добавляется подготовка образца с помощью сфокусированного ионного пучка для анализа на просвечивающем электронном микроскопе. FEI Company производит ионно-лучевые приборы (focused ion beam, FIB systems) для трёхмерного анализа микроструктуры поверхности кремниевых полупроводниковых пластин, обнаружения дефектов, непрерывного технологического контроля качества на производстве интегральных микросхем, производит автоматизированный анализатор дефектов полупроводниковых пластин для предприятий микроэлектронной промышленности. |
|
| Company has been included into the sections: | Компания включена в следующие разделы: |
| Manufacturers and suppliers of scanning electron microscopes (SEM systems). | Производители и поставщики растровых электронных микроскопов, сканирующих электронных микроскопов. |
| Manufacturers and suppliers of transmission electron microscopes (TEM systems). | Производители и поставщики просвечивающих электронных микроскопов. |
|
| Author of the catalogue - Andrey Yurievich Zhdanov. | Автор каталога - Андрей Юрьевич Жданов. |
|
|
|
|
|
|
|
|
| Analytical and laboratory equipment companies, scientific instrument companies. | Производители и поставщики аналитического и лабораторного оборудования. |
| В каталог включаются производители и поставщики следующего оборудования: аналитические приборы, научные приборы, лабораторное и научное оборудование, приборы для спектрального химического анализа (атомно-абсорбционные, атомно-флуоресцентные, атомно-эмиссионные, оптико-эмиссионные спектрометры, КД, КР, Рамановские, ИК-Фурье спектрометры, флуориметры, спектрофлуориметры, спектрофотометры, рефрактометры, поляриметры, масс-спектрометры, рентгеновские, рентгенофлуоресцентные спектрометры, ЯМР и ЭПР спектрометры), оборудование для оптической спектроскопии, масс-спектрометрии, ЯМР, ЭПР спектроскопии, рентгеновской спектрометрии, рентгенофлуоресцентного анализа, приборы и оборудование, колонки для газовой хроматографии, газо-жидкостной хроматографии и хромато-масс-спектрометрии, высокоэффективной жидкостной хроматографии, жидкостной хромато-масс-спектрометрии, флюидной хроматографии, капиллярной, микроколоночной ВЭЖХ, препаративной жидкостной хроматографии, тонкослойной хроматографии (газовые хроматографы, газовые хромато-масс-спектрометры, высокоэффективные жидкостные хроматографы и хромато-масс-спектрометры, ионные хроматографы, препаративные жидкостные хроматографы, оборудование для ТСХ), приборы и оборудование для электрофореза, системы капиллярного зонного электрофореза, капиллярной мицеллярной электрохроматографии, приборы для электрохимического анализа (рН-метры, иономеры, полярографы), проточно-инжекционные анализаторы, приборы для элементного анализа, определения содержания общего углерода, определения общего азота, анализа содержания белка по Кьельдалю, определения содержания общей серы в нефти, нефтепродуктах, экспресс-анализа состава металла, определения марки сплава по элементному составу (элементные анализаторы), лабораторное оборудование, приборы для контроля качества продуктов питания, зерна, химического и микробиологического анализа пищевых продуктов, контроля безопасности пищевых продуктов, приборы для анализа воды, контроля чистоты воды, контроля качества питьевой воды, приборы для контроля качества фармацевтической продукции, лекарственных средств, лекарственных препаратов, контроля безопасности лекарств, лабораторные и портативные приборы для определения состава, свойств нефтепродуктов, контроля качества нефтепродуктов, нефти, анализаторы бензина, дизельного топлива, смазочных масел, газоаналитическое оборудование, приборы для анализа газов нефтепереработки, приборы для анализа чистых газов, контроля чистоты газов, ИК-Фурье спектрометры для анализа газов, масс-спектрометры для анализа газов, газоанализаторы для контроля промышленных газовых выбросов, анализаторы состава дымовых газов, приборы для термического анализа, дифференциального термоанализа, термогравиметрического анализа, дифференциальной калориметрии, дилатометрии (термовесы, калориметры, дилатометры), приборы для динамического механического анализа, термомеханического анализа, изучения теплофизических характеристик материалов, теплоизолирующих свойств материалов, измерения теплопроводности материалов, приборы для материаловедения, металлографического анализа, оборудование для испытания материалов, машины для механофизических испытаний материалов (испытательные машины, твердомеры, термокамеры), приборы для реологии, измерения вязкости, определения вязкоэластичных свойств материалов, анализа текстуры материалов (вискозиметры, реометры, анализаторы текстуры), приборы для анализа размера и формы частиц сыпучих материалов, порошков, определения размера пор, объема пор, измерения удельной поверхности, истинной плотности сыпучих и пористых материалов, измерения дзета-потенциала частиц, приборы для рентгеноструктурного анализа (рентгеновские дифрактометры), оборудование, приборы для изучения микроструктуры и микроанализа поверхности материалов, элементного картирования поверхности образца (оптические микроскопы, флуоресцентные микроскопы, ИК-Фурье и Рамановские аналитические микроскопы, электронные микроскопы, зондовые атомно-силовые сканирующие микроскопы, рентгеновские микроскопы и микроспектрометры), оборудование для микробиологической лаборатории, приборы для микробиологического анализа, пищевой микробиологии, санитарно-микробиологического контроля пищевых продуктов, питьевой воды, лабораторное оборудование и приборы для биологии, биохимии, биотехнологии, фармакологии, фармацевтики (считыватели микропланшетов, анализаторы роста микроорганизмов, счетчики микробных колоний, ламинарные боксы биологической безопасности, перчаточные боксы, лабораторные инкубаторы, ферментеры, биореакторы). | |
| FEI Company производит сканирующие электронные микроскопы, просвечивающие электронные микроскопы, комбинированные двухлучевые приборы для электронной, ионной микроскопии, трёхмерного микроструктурного и элементного микроанализа, приборы с фокусированным ионным пучком (focused ion beam, FIB systems) для трёхмерного микроструктурного анализа и обнаружения дефектов полупроводниковых пластин, микроспектрометры. Производитель сканирующих электронных микроскопов, просвечивающих электронных микроскопов, оборудования для электронной микроскопии и элементного микроанализа, приборов для микроструктурного анализа с помощью дифракции отражённых электронов, эмиссионной рентгеновской спектроскопии, приборов для рентгеновского микроанализа химического состава поверхности материалов, полупроводников, приборов контроля качества в микроэлектронной промышленности. Основная продукция компании: научно-исследовательское оборудование, научное оборудование, аналитические и научные приборы, спектрометры, микроспектрометры, электронные микроскопы. Приборы и оборудование для электронной микроскопии и микроструктурного анализа, приборы для рентгеновской спектрометрии и рентгеновского микроанализа, электронные микроскопы, микроспектрометры. Приборы и оборудование для научных исследований в области нанотехнологии, электронные микроскопы, ионные микроскопы и аналитические системы для микроанализа химического состава поверхности материалов, изучения наноструктур, разработки наноматериалов. |
| FEI Company (FEI, Philips Electron Optics and Micrion) is a manufacturer of FIB, SEM, TEM, and ESEM instrumentation. FEI Company manufactures a complete line of focused ion and electron beam solutions. These products address applications in semiconductors, thin film disk drive heads, materials and life sciences. A wide range of system options: Beam Chemistries- These FIB options deliver gases close to the sample surface to deposit metal or insulating materials with an ion beam, or reactive gases for enhanced etch. Analytical Packages for increase your elemental and chemical identification by adding EDX, SIMS or Grain Size Analysis. Energy Dispersive X-ray Microanalysis (EDX)- Add EDX to your SEM or DualBeam for high resolution, non-destructive elemental microanalysis. FEI's column positioning, along with the superior optical performance of the Hexalens electron column, provide an optimal analytical configuration for using EDX. Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)- SIMS combined with FIB is a valuable tool for supporting semiconductor manufacturing operations. Combining SIMS with FIB provides in situ three-dimensional elemental analysis of the layers or defects exposed by FIB milling. SIMS helps to reveal sources of trace contamination, characterize thin-film layers, and identify defects and particles at submicron levels. FIB-based SIMS provides analytical capability with high spatial resolution and excellent elemental sensitivity.Grain Size Analysis- FEI's Grain Size Analysis package, is available on FIB and DualBeam systems to facilitate aluminum grains studies. The automated software speeds the process by converting information collected in FIB images into statistical tables and graphs. Ion channeling contrast variations are caused by the differing orientations of discrete grains, giving a good picture of each grain's boundary. The patented software uses images collected at different tilt angles to produce a binary image showing grain outlines, and automatically calculates the size of each grain. Specialized SEM systems: XL-Forensic- has a dedicated module for automatic detection and quantification of gun-shot residue (GSR). Embedded EDX capability for element and chemical identification. |