| I - index of alphabetical catalogue in English language. | I - индекс алфавитного каталога на русском языке. |
|
|
| Information about the company | Информация о компании (русский текст) |
| IXRF Systems, Inc. | |
| IXRF Systems is a manufacturer of EDS microanalysis and imaging systems for electron microscopes, EDS detectors, EDS system upgrades, integrated X-ray fluorescence microanalysis systems for scanning electron microscopes (integrated XRF analysis in the SEM). IXRF Systems manufactires a complete EDS systems, EDX/EDS microanalysis systems, upgrades for existing EDS systems, EDS detector upgrades, such as light element windows, crystal changes. IXRF Systems manufactures X-ray fluorescence (XRF) microanalysis instruments for scanning electron microscopes: collimated X-ray source providing a 500 micron to 5mm X-ray spot analysis in the SEM, and micro-XRF analyzer system (X-ray spot sizes around 40-60 microns or larger). The key benefit is a reduced background - very low elemental analysis (ppm) can be performed. The X-ray fluorescence (XRF) microanalysis instruments uses SEM stages for creating elemental maps at the ppm level. The micro-EDXRF spectrometer system for scanning electron microscopes incorporates a polycapillary focusing optic to focus the x-ray beam, creating an excitation area of about 40 microns. The collimated X-ray source for SEM and micro-XRF spectrometer system can be adapted to just about any electron microscope and used with any EDS system. | |
| IXRF Systems, Inc. | |
| Американская приборостроительная компания, специализация - дополнительное микроаналитическое оборудование для электронной микроскопии, приборы для элементного картирования и количественного элементного микроанализа, рентгенофлуоресцентного микроанализа химического состава поверхности материалов (рентгеновские аналитические приборы для электронных микроскопов). Производитель рентгеновских эмиссионных микроспектрометров, рентгенофлуоресцентных микроспектрометров для электронных микроскопов. Компания IXRF Systems производит аналитические приставки к электронным микроскопам: энергодисперсионные рентгеновские микроспектрометры (EDS detectors, EDS microanalysis and imaging systems for electron microscopes) и энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные микроспектрометры (micro-EDXRF spectrometer system). Предлагает модернизацию и расширение возможностей рентгеновских спектрометров установленных на электронный микроскоп (EDS system upgrades). Компания IXRF Systems производит встраиваемые приборы для проведения количественного рентгенофлуоресцентного элементного микроанализа материалов, исследуемых на электронном микроскопе, например геологических образцов (integrated XRF microanalysis in the SEM): источник сфокусированного рентгеновского излучения для установки на сканирующий электронный микроскоп, оснащённый рентгеновским энергодисперсионным спектрометром, и комплектный энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный микроспектрометр с поликапиллярной рентгеновской оптикой для сканирующих электронных микроскопов (micro-XRF spectrometer system). Использование дополнительного рентгеновского излучения для возбуждения образца по сравнению с электронным лучём сканирующего электронного микроскопа улучшает соотношение сигнал/шум более чем на порядок, повышает чувствительность и точность определения элементного состава образца, обеспечивает количественный элементный анализ образца внутри сканирующего электронного микроскопа. Поликапиллярная рентгеновская оптика рентгенофлуоресцентного микроспектрометра для сканирующих электронных микроскопов обеспечивает диаметр рентгеновского луча (анализируемое пятно на поверхности образца) в 40-60 микрометров. Рентгенофлуоресцентный микроспектрометр для установки на сканирующий электронный микроскоп позволяет получить данные о микроструктуре образца, послойном элементном составе, толщине слоёв и распределении элементов на поверхности образца и внутри слоёв (рентгеновский аналитический микроскоп + сканирующий электронный микроскоп). Источник сфокусированного рентгеновского излучения для установки на сканирующий электронный микроскоп имеет больший диаметр рентгеновского луча (анализируемое пятно на поверхности образца)- от 500 микрометров, но также превращает сканирующий электронный микроскоп, оснащённый рентгеновским энергодисперсионным спектрометром в рентгенофлуоресцентный анализатор. Источник сфокусированного рентгеновского излучения и рентгенофлуоресцентный микроспектрометр с поликапиллярной рентгеновской оптикой монтируются на различные модели сканирующих электронных микроскопов и могут работать совместно с рентгеновскими микроспектрометрами других производителей. | |
| Company has been included into the sections: | Компания включена в следующие разделы: |
| Manufacturers and suppliers of scanning electron microscopes (SEM systems). | Производители и поставщики растровых электронных микроскопов, сканирующих электронных микроскопов. |
| Manufacturers and suppliers of transmission electron microscopes (TEM systems). | Производители и поставщики просвечивающих электронных микроскопов. |
|
| Author of the catalogue - Andrey Yurievich Zhdanov. | Автор каталога - Андрей Юрьевич Жданов. |
|
|
|
|
|
|
|
|
| Analytical and laboratory equipment companies, scientific instrument companies. | Производители и поставщики аналитического и лабораторного оборудования. |
| В каталог включаются производители и поставщики следующего оборудования: аналитические приборы, научные приборы, лабораторное и научное оборудование, приборы для спектрального химического анализа (атомно-абсорбционные, атомно-флуоресцентные, атомно-эмиссионные, оптико-эмиссионные спектрометры, КД, КР, Рамановские, ИК-Фурье спектрометры, флуориметры, спектрофлуориметры, спектрофотометры, рефрактометры, поляриметры, масс-спектрометры, рентгеновские, рентгенофлуоресцентные спектрометры, ЯМР и ЭПР спектрометры), оборудование для оптической спектроскопии, масс-спектрометрии, ЯМР, ЭПР спектроскопии, рентгеновской спектрометрии, рентгенофлуоресцентного анализа, приборы и оборудование, колонки для газовой хроматографии, газо-жидкостной хроматографии и хромато-масс-спектрометрии, высокоэффективной жидкостной хроматографии, жидкостной хромато-масс-спектрометрии, флюидной хроматографии, капиллярной, микроколоночной ВЭЖХ, препаративной жидкостной хроматографии, тонкослойной хроматографии (газовые хроматографы, газовые хромато-масс-спектрометры, высокоэффективные жидкостные хроматографы и хромато-масс-спектрометры, ионные хроматографы, препаративные жидкостные хроматографы, оборудование для ТСХ), приборы и оборудование для электрофореза, системы капиллярного зонного электрофореза, капиллярной мицеллярной электрохроматографии, приборы для электрохимического анализа (рН-метры, иономеры, полярографы), проточно-инжекционные анализаторы, приборы для элементного анализа, определения содержания общего углерода, определения общего азота, анализа содержания белка по Кьельдалю, определения содержания общей серы в нефти, нефтепродуктах, экспресс-анализа состава металла, определения марки сплава по элементному составу (элементные анализаторы), лабораторное оборудование, приборы для контроля качества продуктов питания, зерна, химического и микробиологического анализа пищевых продуктов, контроля безопасности пищевых продуктов, приборы для анализа воды, контроля чистоты воды, контроля качества питьевой воды, приборы для контроля качества фармацевтической продукции, лекарственных средств, лекарственных препаратов, контроля безопасности лекарств, лабораторные и портативные приборы для определения состава, свойств нефтепродуктов, контроля качества нефтепродуктов, нефти, анализаторы бензина, дизельного топлива, смазочных масел, газоаналитическое оборудование, приборы для анализа газов нефтепереработки, приборы для анализа чистых газов, контроля чистоты газов, ИК-Фурье спектрометры для анализа газов, масс-спектрометры для анализа газов, газоанализаторы для контроля промышленных газовых выбросов, анализаторы состава дымовых газов, приборы для термического анализа, дифференциального термоанализа, термогравиметрического анализа, дифференциальной калориметрии, дилатометрии (термовесы, калориметры, дилатометры), приборы для динамического механического анализа, термомеханического анализа, изучения теплофизических характеристик материалов, теплоизолирующих свойств материалов, измерения теплопроводности материалов, приборы для материаловедения, металлографического анализа, оборудование для испытания материалов, машины для механофизических испытаний материалов (испытательные машины, твердомеры, термокамеры), приборы для реологии, измерения вязкости, определения вязкоэластичных свойств материалов, анализа текстуры материалов (вискозиметры, реометры, анализаторы текстуры), приборы для анализа размера и формы частиц сыпучих материалов, порошков, определения размера пор, объема пор, измерения удельной поверхности, истинной плотности сыпучих и пористых материалов, измерения дзета-потенциала частиц, приборы для рентгеноструктурного анализа (рентгеновские дифрактометры), приборы для изучения микроструктуры и микроанализа поверхности материалов, элементного картирования поверхности образца (флуоресцентные микроскопы, ИК-Фурье и Рамановские аналитические микроскопы, электронные микроскопы, атомно-силовые сканирующие микроскопы, рентгеновские микроскопы, рентгенофлуоресцентные микроспектрометры, Оже спектрометры, эллипсометры, масс-спектрометры вторичных ионов), оборудование для микробиологической лаборатории, приборы для микробиологического анализа, пищевой микробиологии, санитарно-микробиологического контроля пищевых продуктов, питьевой воды, лабораторное оборудование и приборы для биологии, биохимии, биотехнологии, фармакологии, фармации (считыватели микропланшетов, счетчики микробных колоний, анализаторы роста микроорганизмов, ламинарные боксы биологической безопасности, перчаточные боксы, ферментеры, биореакторы). | |
| IXRF Systems производит аналитические приставки к электронным микроскопам: энергодисперсионные рентгеновские микроспектрометры (EDS detectors, EDS microanalysis and imaging systems for electron microscopes) и энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные микроспектрометры (micro-EDXRF spectrometer system). Приборостроительная компания, специализация - аналитическое приборостроение и научное приборостроение (производитель научного и аналитического оборудования - приборов для элементного микроанализа). Приборостроительная компания, производит аналитические приставки к электронным микроскопам и аналитические системы (комплектные аналитические и научные приборы) для рентгеновского микроанализа (рентгенофлюоресцентного микроанализа) - рентгеновские аналитические микроскопы. Программное обеспечение и электронная апаратура для компьютерного анализа изображения и создания цифровой карты элементного состава поверхности материалов (визуализация результатов химического анализа поверхности материалов на микроуровне). Основная продукция компании: аналитические и научные приборы, комплектное исследовательское и аналитическое оборудование для рентгеновского микроанализа (аналитические микроскопы для рентгенофлуоресцентного микроанализа), аналитические приставки к электронным микроскопам для элементного картирования, компьютерного анализа изображения химического состава поверхности материала, программное обеспечение и электронная апаратура для компьютерного анализа изображения и создания цифровой карты элементного состава поверхности материалов (визуализация результатов химического анализа поверхности материалов на микроуровне). Приборы и оборудование для рентгенофлуоресцентного микроанализа, элементного картирования, графического отображения, визуализации химического состава поверхности материалов. |
| iXRF Systems is a manufacturer of XRF microanalysis sistems, EDS-Imaging microanalysis systems for electron microscopes. iXRF Systems provides upgrades to existing EDS systems and complete EDS systems for electron microscopes (SEM and TEM). Upgrades are available for existing Kevex, Noran (Tracor), Link, and EDAX. iXRF Systems, Inc manufactures EDS-Imaging Systems and provides several configurations of new systems which include EDS detectors and digital imaging. Upgrades for existing EDS-Imaging Systems - the IXRF system can be interfaced to your existing detector, replacing your old EDS system with a modern PC-based system. In addition, iXRF Systems Inc can provide digital imaging. Detector upgrades, such as light element windows, crystal changes, etc are also available. iXRF Systems manufactures IXRF Integration Systems - the Integrated EDS system combines the SEM and IXRF EDS user interfaces into a single application. The EDS Toolbar is accessed directly from the SEM user interface allowing advanced microanalysis features to be performed directly on the live SEM image. Spectra, X-ray Maps, and Linescans can be directly acquired from selected regions of the SEM image with a single click on the EDS Toolbar. The EDS and SEM user interfaces combine to provide one seamless microanalysis tool. |